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分析機能付き走査電子顕微鏡[本部]​運用一時休止のお知らせ

印刷用ページを表示する 更新日:2024年9月10日更新

故障のため、下記の装置の機器利用を一部休止いたします。

分析機能付き走査電子顕微鏡[本部]​
 https://www.iri-tokyo.jp/setsubi/zai-h20-sem.html
休止期間:未定

再開の目途が立ち次第、webページにてお知らせいたします。
ご利用のお客様には大変ご不便をお掛けいたしますが、ご理解のほどよろしくお願いいたします。


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