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電界放出形走査電子顕微鏡[本部]

印刷用ページを表示する 更新日:2024年4月4日更新
設備利用
依頼試験
分類
C:顕微鏡:走査電子顕微鏡
対象
 
仕様

電子銃:冷陰極電界放出形電子銃
分解能:0.6 nm(加速電圧 15 kV、WD=4 mm)
倍率:20倍 から 200万倍 まで(実用倍率数十万倍程度)
分析検出器:エネルギー分散形X線分析装置(2台)
分析範囲:
 Ultim Max 100  4Beから98Cf
 Ultim Extreme  3Liから83Bi まで
試料サイズ:最大32mm(直径)
試料高さ:最大36 mm(試料ホルダー、試料台を含めて)
試料重量:最大300 g(試料ホルダー、試料台を含めて)

用途
微小部分の観察および分析
製造者
SEM:株式会社日立ハイテク
EDX:オックスフォード・インストゥルメンツ
型番
SEM:SU-8600
EDX:Ultim Max 100, Ultim Extreme
導入年度
2023
設置場所
本部
グループ
計測分析技術グループ
試験規格対応
備考

【注意事項】

磁性体試料は、対物レンズの磁界で強く吸引され、故障の原因となりますので、本装置では観察できません。

設備利用料金表
設備利用 分類番号 試験項目 項目コード 中小料金 一般料金
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 像の観察 [1試料につき] T632111 12,460円 18,100円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 写真撮影 [1撮影につき] T632121 2,890円 4,410円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 定性分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定点につき] T632211 9,100円 13,610円
依頼試験 6.1.20. 走査電子顕微鏡によるもの 線分析又は面分析 エネルギー分散型分光器によるもの [1測定につき] T632311 14,960円 26,000円

SU-8600写真

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  • ご利用方法・ご利用料金は各ページにてご確認下さい。依頼試験のページを見る 機器利用のページを見る
  • 代表的な試験の料金を表示しています。詳しくは試験担当者にお問い合わせください。
  • 企業規模、業種によって料金が異なります。適用料金、支払方法は適用料金の分類をご覧ください。

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